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OLED光谱分析系统用于测量OLED、钙钛矿LED及其其他发光器件的发射光谱特性和极化角，同事也可测量器件的s和p偏振光谱、发射光谱与角度的关系，计算出发射层中激子的发光角度及位置分布。
产品名称：OLED/LED电致发光/光致发光测量系统，EL/PL测量系统，多角度光谱测量系统，发光效率测量系统，发光光谱测量系统，外量子效率测量系统。
技术优势：
角度依赖的PL光致发光谱分析
角度依赖的EL电致发光谱分析
角度依赖的发光分析
兼容顶发光和底发光结构的OLED的及其他发光器件
p- and s-偏振态检测
偏振角度连续扫描
发光层中发光偶极子检测及偶极子趋向分析
兼容各种几何尺寸样品
样品便捷对准
可与Setfos结合，对发光层进行分析
测量功能：
颜色效率分析
可视角分析
量子效率EQE
流明效率lm/W
发光效率Cd/A
发光区域拟合
发光趋向分析
发光特性角度依赖分析
光谱和颜色VS.发射角
发光层中偏振态分析
散射特性分析
工作点
效能 (cd/A)
CIE坐标
色温和显色指数等分析
电流-电压-亮度(J-V-L)曲线测量
光谱辐照度/强度
辐射强度
亮度
更多详情请咨询：http://www.julistech.com/SonList-2162674.html
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