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OLED光电性能测量系统
-整合了DC,AC and Transient mode
用于太阳能电池/OLED器件载流子特性测量与分析,通过对器件的变光强J-V曲线、瞬态光电流谱TPC,瞬态光电压谱TPV、线性增压载流子抽取Photo-CELIV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS、阻抗谱IS、电容电压谱CV、深能级瞬态谱DLTS等进行测量分析,表征器件的载流子迁移率、载流子寿命和浓度、载流子动力学过程、掺杂和陷阱分布等性能参数,从而对太阳能电池/OLED器件和其他有机半导体中的载流子迁移率进行有效的分析和测量。
主要应用:
* 无机半导体光电器件,有机半导体光电器件;
* 有机太阳能电池OPV;
* 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell,钙钛矿LED;
* 无机太阳能电池(例如:单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池);
* 染料敏化太阳能电池DSSC;
OLED光电性能测量系统
主要测量功能:
* 点亮电压(电流电压照度特性 I-V-L)
* 发光寿命,载流子迁移率(瞬态电致发光法 TEL)
* OLED/钙钛矿LED发光特性测量;
* 载流子密度,载流子动力学过程(瞬态光电流法 TPC)
* 载流子寿命,载流子符合动力学过程(瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV)
* 载流子迁移率(暗注入瞬态法 DIT,单载流子器件&OLED)
* 串联电阻,几何电容,RC时间(电压脉冲法 Pulse Voltage)
* 参杂密度,电容率,串联电阻,载流子迁移率(暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV)
* 载流子迁移率,载流子密度(光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV)
* 载流子复合过程,朗之万函数复合前因子(时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV)
* 不同工作点的载流子强度,载流子迁移率(注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV)
* 几何电容,电容率(MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV)
* 陷阱强弱度,等效电路(阻抗谱测试 IS)
* 迁移率,陷阱强弱度,电容,串联电阻(电容VS频率 C-f)
* 内建电压,参杂浓度,注入势垒,几何电容(电容VS电压 C-V)
更多详情请咨询:http://www.julistech.com/SonList-2162671.html
https://www.chem17.com/st454219/erlist_2162671.html