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福建晶振外壳订做|沧州恒熙电子公司订做规格36X27X12.7
2024-05-10 16:02  浏览:4
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 晶振外壳规格36X27X12.7厂家讲在购买晶振时,怎么判断晶振的好坏,如何辨别晶振质量的好坏有两种方法:一种是肉眼识别法;二种是万用表检测法方法/步骤;
1、包装风格:晶振原厂出库的晶振,都是统一要求包装,包装风格外观干净大方,外盒有明显带有公司商标或者公司名称的产品标签,封装标签中含有产品型号、规格大小、精度要求、电阻多少、数量多少、QC检测确认、生产日期等主要晶振参数信息,便于用于客户方面核查入仓和生产、核对,也是产品生产全程可追溯的重要一环。
2晶振外观观察:从外壳到基座及引线,有条件的可以使用放大镜观看,从不同角度进行不同方位的检查,光亮程度是否有模糊的地方,外壳是否干净等,新的晶振外表基本没有明显的手印和附带的其他碎屑,外壳和基座之间的压封贴合部分整齐不突出并无瑕疵。而鱼龙混杂电子市场等很多晶振做工很粗糙,肉眼就可观测到外观有缝隙,压封贴合有不同程度的突起和变形,有无光泽、甚至有轻微发黄和氧化的现象即为劣质产品。还有一种是外观二等品,其性能都是好的,只是在外观检测不过关,所以就只能算是外观二等品。
晶振外壳开裂产生的原因同尺寸特点
其一、晶振外壳开裂产生的原因
晶振外壳开裂是制件在拉延、翻边等工序中较容易出现的质量缺陷,将直接影响制件的强度,降低产品的使用寿命,所以当制件出现开裂问题时,就会做报废处理,这就无形中降低了生产效率,增加了生产成本,因此前期预防及出现缺陷后快速应对解决都是刻不容缓、需要的。
晶振外壳开裂缺陷描述:开裂主要是由于材料在拉深过程中,应变超过其而形成失稳。
晶振外壳开裂产生的原因:
⑴、产品抗拉强度不足而产生的破裂,如靠近凸、凹模圆角处,局部受力过大而破裂。
⑵、材料变形量不足而引起的破裂,在胀形变形时,靠近凸模顶部产生的破裂或凸缘伸长材料变形流入过大引起的破裂。
⑶时效裂纹,即成形复杂区域在成形过程中产生材料硬化,硬化变形时伴随脆化现象,在成形残余应力的作用下引起制件破裂。
⑷、材料成形时受拉深弯曲后再弯曲折回以致产生破裂,多产生于凸筋或凹模口处。
⑸、条纹状裂纹,由于材料内有杂质引起的裂纹,一般平行于板料轧制方向。
其二、晶振外壳的尺寸特点
晶体振荡器被广泛用于各种模拟和数字电路中作为基准时钟源,其质量的好坏直接影响到电路工作状况,而晶振外壳(也称晶振帽)冲压品质是影响晶振性能的主要因素之一。晶振外壳采用冲床连续冲压成型,经大量观察和分析发现,主要缺陷有内底面与顶面的凹坑、内底面与顶面的划痕,侧面裂口和侧面挠曲。
之前的研究者针对前3种缺陷,应用计算机视觉检测技术设备了晶振外壳缺陷检测系统,通过图像的分析和处理判断是否有缺陷,并且设计了晶振外壳缺陷检测系统的硬件平台。几基本实现晶振外壳缺陷的在线自动检测,而且具有很好的检测准确性。但是对于挠曲缺陷,由于整个外壳尺寸比较小;小挠曲肉眼很难发现和判断。而且这种挠曲缺陷与面缺陷有很大区别,侧面和顶面图像上不能反映挠曲缺陷的存在,因而以前的方法对该挠曲缺陷检测是无效的。本文在分析原有的检测方法的基础上,研究晶振外壳的侧面挠曲缺陷,提出检测侧面挠曲缺陷的方法。
沧州恒熙电子有限责任公司http://www.hengxidianzi.com)主营多种不同型号的晶振外壳电源外壳金属封装外壳,配备镀金、镀镍、镀锡、电泳漆、阳极氧化等表面处理加工车间、全部实现本厂自主生产加工能、缩短交期等问题。产品远销北京、上海、广州、深圳、西安、等地。
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